对电子产品进行高低温老化测试的目的

　　跟着电子技术的开展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越纤细，工序越来越多，制作工艺越来越杂乱，这样在制作进程中会发生一些埋伏缺点。电子产品高低温实验箱电子产品在出产制作时，因规划不合理、原材料或工艺办法方面的原因引起产品的质量问题归纳有两类。

　　第一类是产品的性能参数不合格，出产的产品不符合运用要求； 第二类是潜在的缺点，这类缺点不能用一般的测验手法发现，而需要在运用进程中逐渐地被露出，如硅片外表污染、安排不稳定、焊接空泛、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

　　一般这种缺点需要在元器件作业于额定功率和正常作业温度下运转一千个小时左右才干悉数被激活（露出）。明显，对每只元器件测验一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力实验，来加快这类缺点的提早露出。

　　也便是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种归纳的外部应力，模仿严格作业环境，消除加工应力和剩余溶剂等物质，使埋伏毛病提早呈现，赶快使产品经过失效浴盆特性初期阶段，进入高牢靠的稳定时。

　　经过高温老化可以使元器件的缺点、焊接和安装等出产进程中存在的危险提早露出，老化后再进行电气参数丈量，挑选除掉失效或变值的元器件，尽可能把产品的前期失效消除在正常运用之用，从面确保出厂的产品能经得起时刻的检测。